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结晶性检查法

来源:四部   分类:通则   页码:132  

0981 结晶性检查法
固态物质分为结晶质和非晶质两大类。可用下列方法检查物质的结晶性。
第一法(偏光显微镜法)
许多晶体具有光学各向异性,当光线通过这些透明晶体时会发生双折射现象。
取供试品颗粒少许,置载玻片上,加液状石蜡适量使晶粒浸没其中,在偏光显微镜下检视,当转动载物台时,应呈现双折射和消光位等各品种项下规定的晶体光学性质。
第二法(x射线粉末衍射法)
结晶质呈现特征的衍射图(尖锐的衍射峰),而非晶质的衍射图则呈弥散状。测定方法见X射线衍射法(通则0451)。

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